SMVで学ぶモデル検査入門(5/26開催)[終了]

■日 程:2011年5月26日(木)
■会 場:国立情報学研究所 20階ミーティングルーム(2009, 2010)
■講 師:早水 公二(株式会社フォーマルテック)

セミナー概要
日 時 2011年5月26日(木) 10:00-17:00(9:30受付開始)
会 場 国立情報学研究所 20階 ミーティングルーム1・2(2009, 2010)
概 要 近年、産業界で注目を集めている形式手法の1つであるモデル検査の入門講座です。モデル検査はシステムが取り得る全状態を網羅的に検査するため、要求された性質や挙動を満たさない状態が1つでもあれば、その状態に至るまでのパスを発見することができます。微妙なタイミングや多くの条件が重なることで発生する不具合の発見・解析に非常に有効です。本セミナーでは、モデル検査の概要に加えて、企業での取り組みやデモ、多くの例題を交えながら初心者の方にも分かりやすく説明します。また、演習問題も用意していますので、実際にモデル検査ツールSMVを操作することで、より深い理解を得ることができます。
内容のレベル 基礎
講 師 早水 公二(株式会社フォーマルテック)
対 象 一般 ※ 定員 36 名(先着順)
参加費(税込) 一般会員 10,000円、一般非会員 23,000円
学生会員 3,000円、学生非会員 8,000円
※参加費の一部(10%)を、東日本大震災の義援金として寄付いたします。
主 催 NPO法人 トップエスイー教育センター
協 力 国立情報学研究所 GRACEセンター
お問合せ窓口 セミナーに関するご質問などは、下記アドレスにて承ります。
seminar@topse.or.jp